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注目先端技術成功の理由 : MOT事例研究 : 液晶ディスプレイ・薄膜SOI・DNAチップ・Linux

武田計測先端知財団編. -- 工業調査会, 2004. <BB00736318>
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武田計測先端知財団編. -- 工業調査会, 2004. <BB00736318>
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No. 巻冊次等 配置場所 運用 資料形態 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 地下1階 507||TAK 01092477 0件
No. 0001
巻冊次等
配置場所 地下1階
運用
資料形態
請求記号 507||TAK
資料ID 01092477
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 注目先端技術成功の理由 : MOT事例研究 : 液晶ディスプレイ・薄膜SOI・DNAチップ・Linux / 武田計測先端知財団編||チュウモク センタン ギジュツ セイコウ ノ リユウ : MOT ジレイ ケンキュウ : エキショウ ディスプレイ ハクマク SOI DNA チップ Linux
出版・頒布事項 東京 : 工業調査会 , 2004.12
形態事項 228p, 図版 [2] p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 4769361602
その他の標題 奥付タイトル:「MOT事例研究 」注目先端技術成功の理由||エムオーティー ジレイ ケンキュウ チュウモク センタン ギジュツ セイコウ ノ リユウ
その他の標題 異なりアクセスタイトル:注目先端技術成功の理由 : MOT事例研究 : 液晶ディスプレイ薄膜SOIDNAチップLinux||チュウモク センタン ギジュツ セイコウ ノ リユウ : MOT ジレイ ケンキュウ : エキショウ ディスプレイ ハクマク SOI DNA チップ Linux
注記 参考文献: 章末
学情ID BA70101469
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 武田計測先端知財団||タケダ ケイソク センタンチ ザイダン <>
分類標目 研究・指導法．技術教育．特許 NDC8:507
分類標目 研究法．指導法．技術教育 NDC9:507
件名標目等 技術開発||ギジュツカイハツ
件名標目等 研究管理||ケンキュウカンリ
件名標目等 製品計画||セイヒンケイカク
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